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用万用表检测IC芯片方法检查IC的步骤

2022-04-25 21:36:07

用万用表检测IC芯片方法检查IC的步骤

用万用表检测ic芯片的几种简易方法。

1.离线检测。

测出ic芯片各引脚对地之间的正,反电阻值.以此与好的ic芯片进行比较,从而找到故障点.。

ic。

2.在线检测。

1)直流电阻的检测法同离线检测一样但要注意:。

(a)要断开待测电路板上的电源。

(b)万能表内部电压不得大于6v。

(ic芯片c)测量时,要注意外围的影响.如与ic芯片相连的电位器等.。

2)直流工作电压的测量法测得ic芯片各脚直流电压与正常值相比即可.但也要注意:。

ic采购。

(a)万能表要有足够大的内阻,数字表为首选。

(b)各电位器旋到中间位置。

(c)表笔或探头要采取防滑措施,可用自行车气门芯套在笔头上,ic交易网并应长出笔尖约5mm。

(d)当测量值与正常值不相符时,应根据该引脚电压,对ic芯片常值有无影响以及其它引脚电压的相应变化进行分析。

(e电子元器件)ic芯片引脚电压会受外围元器件的影响.当外围有漏电,短路,开路或变质等。

纳米到底有多细微。

在开始之前,要先了解纳米究竟是什么意思,在电子元器件采购网数学上,纳米是0.000000001米,但这是个相当差的例子,毕竟我们只看得到小数点后有很多个零,却没有实际的感觉,如果以指甲厚度做比较的话,电子元件或许会比较明显。

用标尺实际测量的话可以得知指甲的厚度约为0.0001米(0.1毫米),也就是说试着把一片指甲的侧面切成10万条线,每条线就电子元件交易网约等同于1纳米,由此可略为想象得到1纳米是何等的微小了。

知道纳米有多小之后,还要理解缩小工艺的用意,缩小晶体管的最主要目的,就是可以在更小51电子网的芯片中塞入更多的晶体管,让芯片不会因技术提升而变得更大,其次,可以增加处理器的运算效率,再者,减少体积也可以降低耗电量,最后,芯片体积缩小后,更容易塞入行动装置中,满足未来轻薄化的需求。

再回来探究纳米工艺是什么,以14纳米为例,其工艺是指在芯片中,线最小可以做到14纳米的尺寸,ic技术资料下图为传统晶体管的长相,以此作为例子,缩小晶体管的最主要目的就是为了要减少耗电量,然而要缩小哪个部分才能达到这个目的,左下图中的l就是我们期望缩小的部分。

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检测芯片方法离线步骤

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