充电时电源ic发烫怎么回事如何辨别光耦好坏

随身生活水平的不断提高，现如今人们携带式的电子产品也越来越多，如手机，数码相机，摄像机等，在炎热的夏天这些产品在充电的时候，大多会发烫ic，那么充电时电源ic会发烫是怎么回事。

有的电源芯片正常工作时，确实会产生过热的现象，如果你的芯片过热后，不能正常工作，有可能烧坏，ic芯片电源ic会发烫主要有以下几大原因：。

1，芯片内部有器件短路，导致芯片供电电流增大。

2，芯片外部供电电压升高，ic采购导致芯片供电电压电流同时增大。

3，散热不好且长时间大负荷工作，导致芯片发烫。

4，芯片输出端口负载变重(负载阻抗变小)，导致芯片输出功率增加。

5ic交易网，芯片输出端口短路，导致芯片输出功率骤增。

一般的充电器都是采用效率较高的开关电源芯片，手机充电的过程中充电器发热是正常现象：交直流电子元器件电在转换时存在损耗，充电时功率大，导致手机电池发热，另外，cpu运行频率高也会导致手机电池及屏幕部分发热，当手机在充电感觉到发烫时，拿电子元器件采购网一小块方巾，蘸点酒精，涂抹在发烫的位置，均匀涂抹几分钟后，热量快速散失，有利于保护电池。

光电耦又称光耦合器或光耦，广泛应用于计算机电子元件，音视频……各种控制电路中，由于光耦内部的发光二极管和光敏三极管只是把电路前后级的电压或电流变化，转化为光的变化，二者之间没有电气连接电子元件交易网，因此能有效隔断电路间的电位联系，实现电路之间的可靠隔离。

1，比较法拆下怀疑有问题的光耦，用万用表测量其内部二极管，三极管的正反向51电子网电阻值，用其与好的光耦对应脚的测量值进行比较，若阻值相差较大，则说明光耦已损坏。

2，数字万用表检测法下面以el817光耦检测为例来说明数字万用表检测的方法，检测电路如下图所示，检测时将光耦内接二极管的+端{1}脚和-端{2}脚分别插入数字万用表的hfe的c，e插孔ic技术资料内，此时数字万用表应置于npn挡，然后将光耦内接光电三极管c极{5}脚接指针式万用表的黑表笔，e极{4}脚接红表笔，并将指针式万用表拨在rx1k挡。

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