电容器漏电测试IC芯片有哪些种类

电解电容器时间用长后就会出现漏电现象，附图所示的电路能让你测试电容器的漏电，并且决定它们是否值得使用，你可以通过cref/rref的比值抑制ic泄漏。

比值适用于从1纳法的陶瓷电容器到1000微法的电解电容器等所有电容器的通用测试，电路中cref的数值与待测电容器cx的数值相近，你ic芯片也可以通过一个旋转开关选择rref，使其大于或小于22mω。

当按钮开关合上时，电容器cref和cx通过它们各自的pnp晶体管进行充电，当ic采购该开关断开时，电容器cref和cx开始放电，假定cref处在良好状态，它具有一个附加的放电外接电阻rref，待测电容器cx通过其内部电阻放电ic交易网。

如果cx的放电比cref通过rref的放电快，此时其电压将下降较快，这样，运算放大器的同向端输入电压将比其反向端输入电压低，迫使运算放电子元器件大器的输出变低，从而点亮红色发光二极管，该发光二极管指明待测电容器cx漏电，该测试电路表明甚至一个1纳法的陶瓷电容器都适应来比作参考，测试前电子元器件采购网请检查待测电容器cx的标称电压应比其待充电电压要高。

集成电路按其功能，结构的不同，可以分为模拟集成电路和数字集成电路两大类。

模拟集成电子元件电路用来产生，放大和处理各种模拟信号(指幅度随时间边疆变化的信号，例如半导体收音机的音频信号，录放机的磁带信号等)，而数字集成电路用来产生，电子元件交易网放大和处理各种数字信号(指在时间上和幅度上离散取值的信号，例如vcd，dvd重放的音频信号和视频信号)。

基本的模拟集成电路有运算放大器，51电子网乘法器，集成稳压器，定时器，信号发生器等，数字集成电路品种很多，小规模集成电路有多种门电路，即与非门，非门，或门等，中规模集成电路有数据选择器，编码译码器，触发器，计数器，寄存器等，大规模或超大规模集成电路有pld(可编程逻辑器件)和asic(专用集成电路)。

ic技术资料从pld和asic这个角度来讲，元件，器件，电路，系统之间的区别不再是很严格，不仅如此，pld器件本身只是一个硬件载体，载入不同程序就可以实现不同电路功能。

电子猿专业的ic电子知识平台，集ic，电子元器件，二三极管，电子/容管等供求信息，拥有五千万条ic型号和四百多万的电子元器件pdf资料，电子元件供应商和电子产品生产商服务，为各类电子元件供应商提供发布供应信息平台，也为电子产品生产商提供采平台和自己的产品展示平台，。

测试有哪些种类现象抑制

免责声明：本网信息来自于互联网，目的在于传递更多信息，并不代表本网赞同其观点。其原创性以及文中陈述文字和内容未经本站证实，对本文以及其中全部或者部分内容、文字的真实性、完整性、及时性本站不作任何保证或承诺，并请自行核实相关内容。本站不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。如若本网有任何内容侵犯您的权益，请及时联系我们，本站将会在24小时内处理完毕。