广立微亮相IC WORLD，展示成品率提升解决方案

12月28日北京微电子国际研讨会暨IC WORLD大会在北京召开，本次大会以“蓄势起航 焕然一芯”主题。大会协同创新、深度融合，通过与相关政府部门、企业、高校、行业协会、媒体深入合作，全面整合行业资源，提升行业参与力，为业界带来诸多新看点。

广立微受邀参加本次大会，携全线产品首次亮相IC WORLD。作为国内极少数能够提供领先量产电性监控和成品率提升解决方案的企业，广立微EDA软件及晶圆级电性测试设备获得了诸多关注。

广立微WAT测试设备在满足量产精度要求的基础上，可大幅提高测试效率，目前已经应用于多家领先的晶圆厂的量产产线和研发实验室。

现场，广立微与业界专业观众深入交流，对产品应用实例及解决方案进行了现场展示与介绍。

“ 通过软硬件协同，我们的电性监控方案能为工艺开发环节排雷，测试效率提高10到1000倍。另外，我们也有完整量产电学监控的解决方案，为生产线的稳定保驾护航。

广立微将积极响应市场的需求，持续创新，为产业打造完整的成品率提升生态，为客户带来更高的价值。

关于我们

杭州广立微电子股份有限公司（股票代码：301095）是领先的集成电路EDA软件与晶圆级电性测试设备供应商，公司专注于芯片成品率提升和电性测试快速监控技术，是国内外多家大型集成电路制造与设计企业的重要合作伙伴。公司提供EDA软件、电路IP、WAT电性测试设备以及与芯片成品率提升技术相结合的整套解决方案，在集成电路设计到量产的整个产品周期内实现芯片性能、成品率、稳定性的提升，成功案例覆盖多个集成电路工艺节点。

审核编辑：汤梓红

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