提供高效与成本效益的芯片数据访问是设备在整个生命周期中可靠运行的基本要求

新思科技（Synopsys）最近，流结构技术的创新已经推出（Streamingfabrictechnology），芯片数据访问和测试的最长时间可以缩短80%，极限功耗可以大大降低，从而限功耗可以大大降低，从而支持芯片健康监控的实时分析。作为新思科技芯片BYW99P-200生命周期管理过程的一部分，这种创新的流结构是由新思科技制造的独特的电影网络TestMAXDFT可测量设计工具的生成可以快速将芯片数据传输到多个设计块和多个裸芯片系统，显著缩短了检测和分析芯片整体健康状况以发现异常和故障的时间。

Enfabrica作为超分布式计算系统的核心，我们需要行业领先的芯片生命周期管理技术来实现我们的高质量目标。与现有的方法相比，新的流动结构技术已经证实，我们的设计测试时间可以大大缩短。我们对测试结果非常满意，并期待着应用于我们的芯片测试。

缩短数据传输时间，降低测试成本

为了确保芯片的健康和正常运行，有必要对芯片或多个裸体芯片系统的数据进行连续访问和分析，如工艺、电压和温度。对于大型先进工艺节点设计，工程团队通常将数据访问集成到每个设计模块中，然后连接到芯片级引脚。

传统的网络相对僵化，需要大量的规划工作。相比之下，新的流动结构技术可以编程，以适应每个模块的速度和数据接口的大小，因此只需要很少的规划工作。为了不断减少绕组，该结构采用了小数据接口模块的简化分支。这些功能可以保证模块级数据访问方法的物理设计友好性，尽可能减少工作量，大大缩短所需的访问时间，从而降低测试成本。此外，该技术简化了分支连接，可以大大降低设计的物理影响，使工程团队能够利用新技术数字设计系列产品快速部署新的流结构。

准确的功耗估算提高了数据的可靠性

现场芯片或多个裸芯片系统中使用的数据（包括测试向量）不应导致芯片功耗过高，否则可能会损坏零件或导致结果故障。与以前的方法相比，新思科技TestMAXATPG新的功耗估算技术可用于测试向量生成解决方案PrimePowerRTL-to-signoff在数据应用过程中，功耗分析技术的结果更准确地确定了功耗，从而减少了功耗的下降，避免了芯片数据的不正确结果和损坏。

提供高效、具有成本效益的芯片数据访问是设备在整个生命周期中可靠运行的基本要求，对于关键任务应用程序保持长期正常运行至关重要。新的流量结构技术和更准确的测试向量功耗估计功能将进一步加强我们的一系列芯片生命周期管理产品，确保客户能够实现设计和进度目标。

生命周期运行数据访问效与芯片系统

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