LED芯片漏电点检测失效分析

服务客户：LED芯片厂、LED封装厂

鉴定设备：激光扫描显微仪

作为一种新型的高分辨率微观缺陷定位技术，能够在大范围内迅速准确地进行器件失效缺陷定位，

基本上，只要有LED芯片异常的漏电，它都可以产生亮点出来。

原理：用激光束在通电恒压下的LED芯片表面进行扫描，激光束部分能量转化为热能，如果LED芯片存在缺陷点，缺陷处温度将无法迅速通过金属线传导散开，这将导致缺陷处温度累计升高，并进一步引起金属线电阻以及电流变化，通过变化区域与激光束扫描位置的对应，定位缺陷位置。该方法常用于LED芯片内部高阻抗及低阻抗分析，芯片漏电路径分析。

案例分析：某客户送来一款漏电的LED灯珠，委托金鉴查找原因。金鉴用光学显微镜，X射线透视仪，扫描电镜，扫描超声波等检测设备排除其他原因后，最后用激光扫描显微仪，经过激光局部加热后，找出阻值变异最大的地方，也就是电流变异最大的所在，下图为标注了此芯片的漏电点。

注：漏电点下面可能是空洞，界面缺陷，如若确定那一层芯片制程问题，需做FIB进一步解剖。

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芯片失效检测定位

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