短会

• 漏电流和寄生电容引起的DRAM故障识别

  

  漏电流和寄生电容引起的DRAM故障识别，寄生电容，寄生电容,识别,故障,短会，漏电流和寄生电容引起的DRAM故障识别-DRAM存储单元（图1 （a））在电源关闭时会丢失已存储的数据，因此必须不断刷新。存储单元在数据丢失前可存储数据的时间， 即保留时间，是DRAM的一个关键特性，保留时间的长短会受到漏电流的限制。"...

  2020-04-08 16:19:00行业信息寄生电容 识别 故障