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安捷伦发表新SDR波形测试解决方案

2012-01-09 00:00:00

安捷伦发表新SDR波形测试解决方案

 

  安捷伦科技(Agilent)日前在美国马里兰州举办无线通讯测试创新论坛(Wireless Innovation Forum),并展示最新软体定义无线电(SDR)测试技术与工具--波形产生与分析解决方案,包括模拟波形用的SystemVue,产生实际波形用的 MXG向量讯号产生器及分析波形用的PXA讯号分析仪与89600 VSA软体,其中分析波形包括多重输入多重输出(MIMO)、自订的正交分频多工(OFDM)、802.11ac、SOQPSK和连续相位调变 (Continuous Phase Modulation, CPM)。

  此外,该公司也在论坛中介绍在基于PXI的宽频仪器上使用的数位预测失真(Digital Predistortion )功能,可将功率放大器驱动至较高的位准,同时限制讯号的峰值-平均功率比,将可提供下一代通讯系统所需的高品质讯号。

解决方案波形测试无线通讯论坛

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