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安捷伦发布全系列微波/射频/无线与雷达测试方案
2011-10-06 00:00:00
安捷伦科技(Agilent Technologies Inc.)宣布,将在10月11-13日于英国曼彻斯特中心登场的欧洲微波周中,针对电信、传输与医疗应用,展示全新微波、射频、无线与雷达测试解决方案。
展出产品包括安捷伦的ADS先进设计系统,加上该公司完整而广泛的技术,可以满足所有的电路模拟需求。ADS包含完全整合的3D电磁模拟器,并透过各种无线程式库来提供FEM、Momentum和系统层级的验证能力。
EMPro提供一个最新且高效率的3D实体模型制作环境,并整合了ADS设计流程与频域和时域模拟功能。SystemVue提供整合的基频与射频/微波系统层级分析、优异的射频/微波模型制作能力、以及简易的量测设备连结功能。
另外,安捷伦也推出适用于各种微波应用的网路分析产品。该公司推出的5款PNA微波向量网路分析仪拥有高达67 GHz的频率,为被动和主动元件的测试提供了最高效能的微波网路分析仪。安捷伦得奖的非线性向量网路分析仪,提供超越线性S参数的重大突破性技术── X参数,可让工程师有效率且准确地设计及分析主动元件在真实的操作环境下的效能。
Agilent E5072A ENA系列网路分析仪(30 kHz至4.5/8.5 GHz)以经济实惠的价格,提供增强的功能与高达+20 dBm的输出功率。该仪器的可配置测试机组,可以让使用者接取仪器内部的讯号源和接收器,使前向量测的动态范围向上延伸至151 dB。
Agilent E5071C ENA系列网路分析仪(9 kHz至8.5 GHz或300 kHz至20 GHz),免费提供了更新的数位硬体,可让仪器的量测速度比以往快上30%。
此外,安捷伦新的高效能PXA讯号分析仪支援高达900 MHz的中频(IF)频宽,可当作宽频降频转换器使用,提供宽频通讯与雷达讯号分析能力。此外,PXA讯号分析仪具备160 MHz频宽,可协助使用者洞察设计问题,进而加快目前的802.11ac装置在设计、验证与除错上的速度,并能轻松解决重要的效能需求。
当搭配Agilent 89600 VSA软体的802.11ac调变分析(第一款专用的802.11ac讯号分析解决方案)功能使用时,PXA将可提供高效能及完整的802.11ac讯号分析。
Agilent Signal Studio for WLAN软体可以BCC或LDPC通道编码、所有的MCS编码、以及多达4个串流的单一或多使用者MIMO,来产生802.11ac波形。安捷伦的ESG、MXG或PSG向量讯号产生器及PXB基频产生器与通道模拟器,支援产生高达80 MHz频宽的讯号的功能。
安捷伦也将展出AXIe型M8190A 12 GSa/s任意波形产生器,兼具高频宽与高解析度双重优点。展示该产品时,会纳入SystemVue和安捷伦的宽频波形产生软体。
Agilent M9392A PXI向量讯号分析仪和Agilent M9202A数位转换器的宽频串流功能,提供业界最高频宽、基于PXI、可连续撷取资料(频宽最高达100 MHz)到RAID储存装置的解决方案。这款新的资料撷取解决方案可以让客户使用Agilent 89600B向量讯号分析软体,或客户自行开发的资料分析工具,对随时间改变的复杂讯号进行特性描述。
新的Agilent M9036A PXIe模组化嵌入式控制器,是一小巧的模组化测试解决方案。这款三槽式控制器,是为了利用Agilent M9018A PXIe机箱的x8 PCI Express 链路而设计。它们为客户的点对点(peer-to-peer)应用,提供了快速的PXI测试平台。透过内建的GPIB、USB、ExpressCard和LAN介面,该控制器亦可轻易地整合到混合式测试系统。
安捷伦的PXI型射频与微波测试系统,可提供更高的量测准确度与弹性。Agilent M9168C直流至26.5 GHz PXI可程控步进衰减器模组,拥有无可匹敌的射频效能,在每区段500万个周期的操作寿命中,保证可提供注入损耗达0.03 dB的重测稳定度。
其他展示内容包括Agilent 8990B峰值功率分析仪可量测射频与微波功率的动态或时间相依部分,以进行峰值功率分析。将Agilent 8990B搭配Agilent N1923/4A峰值功率感测器使用,可以高达5 ns的速度,执行射频脉冲的上升/下降时间量测。Agilent 8990B提供50 MHz至40 GHz的频率范围,以及–35 dBm至20 dBm的动态功率范围。
安捷伦的40/50/67 GHz SPDT/旁通切换器,提供了扩展讯号绕递选项的能力。Agilent N1810/1/2是目前市场上唯一包含67 GHz的切换器产品。这些切换器很适合用于雷达和卫星测试、无线HDMI、无线微波回程线路、以及高速数位设计等应用。
安捷伦的扫描微波显微镜和场发射扫描式电子显微镜,结合强大的原子力显微镜和PNA,提供精确的奈米级扫描电容量测。
安捷伦的小型FE_SEM经过最佳化,可为奈米结构材料提供超高解析度的低电压成像。
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