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多端口射频前端与变频器件的测试方案

2021-12-23 14:56:00

ICCAD2021

中国集成电路设计业2021年会

暨无锡集成电路产业创新发展高峰论坛

罗德与施瓦茨欢迎您的莅临

无锡太湖国际博览中心

A6馆069-070展台

2021年12月22-23日

当前全球集成电路产业已经进入到发展的重大转型期和变革期，集成电路设计业作为产业龙头，处于技术和产品创新的重要环节，在产业发展中承担着重要责任, 同时也是半导体产业实现自主可控的关键。中国半导体行业协会集成电路设计分会定于2021年12月22-23日在无锡举办“中国集成电路设计业2021年会暨无锡集成电路产业创新发展高峰论坛”。

下面为大家列出部分精彩内容

一起先睹为快吧！

荀飞

罗德与施瓦茨（中国）

网络分析仪产品经理

精彩分享：

多端口射频前端与变频器件的测试方案

12月23日，1310

无锡君来世尊酒店一楼兰花厅A

部分解决方案展示

R&S 功率放大器测试方案

越来越多厂家开始研发手机和Wi-Fi功率放大器，功放的设计中DPD算法验证和包络跟踪测试是优化功放性能的关键，本次展会，R&S公司将携高端双通道矢量信号发生器SMW和顶级频谱与信号分析仪FSW参展，为您展示满足手机和Wi-Fi芯片对高带宽和高射频性能要求的测试解决方案。方案还支持自动扫描和记忆效应补偿功能，大大提升测试效率

R&S多端口和变频器件测试

我们已经进入了5G时代，新增的频段促使射频前端的端口数量和频率大大增加，测试效率和稳定性是批量生产的关键，MIPI与射频的一体化测试也成为提升测试速度的重中之重。R&S公司为您带来最高性能的矢量网络分析仪ZNA，多端口矢量网络分析仪ZNBT，以及内置驱动的开关解决方案。我们愿与您一同分享R&S公司在多端口和变频器件测试方面为行业带来的创新和发展。

信号完整性测试-示波器

信号完整性是确保数字设计的所有接口功能正常的关键。芯片的发射机和接收机实施以及传输通道的设计（包括 PCB 迹线、通孔、连接器和电缆）会极大地影响信号完整性。眼图有助于即时判定信号质量。由于信号完整性问题通常与模式相关，因此高采集率有助于在合理时间内捕获多次采集，并通过眼图显示不良场景。为进一步的分析和调试，除了测试之外，一般还会准确测量并分解抖动和噪声，以及针对重要的信号迹线执行 TDR/TDT 测量。探测是获得良好测量结果的关键，去嵌则可以消除探测点和测试点之间信号路径的影响，并在所需的测量平面上获得准确的结果，实时去嵌甚至支持触发校正后的波形。

R&S公司在时域和频域领域均具有专业且丰富的技术储备，并与相关标准化组织展开密切合作，提供了广泛的信号完整性解决方案，能够执行系统级和芯片级接口测试。

更多测试测量解决方案

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关于罗德与施瓦茨

罗德与施瓦茨是测试与测量、系统与方案、网络与网络安全领域的领先供应商。公司成立已超过85年，总部设在德国慕尼黑，在全球70多个国家设有子公司。作为一家独立的科技集团，罗德与施瓦茨创新性的产品和解决方案为全球工业及政府客户提供了一个更安全与互联的世界。截至2021年6月30日，罗德与施瓦茨公司在全球拥有约13000名员工。

更多信息请访问 https://www.rohde-schwarz.com.cn

技术与产品信息请拨打 400-650-5896

原文标题：R&S参展ICCAD无锡集成电路产业创新发展高峰论坛

文章出处：【微信公众号：罗德与施瓦茨中国】欢迎添加关注！文章转载请注明出处。
审核编辑:汤梓红

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