集成电路测试及测试性设计概述，试性,测试,向量,输入,芯片,结构，关键词：集成电路芯片自动测试设备DFT技术随着芯片集成度的越来越高，如今的IC测试面临着前所未有的挑战：测试时间越来越长，百万门级的SoC测试可能需要几个月甚至更长的时间；测试矢量的数目越来越多，覆盖率却难以提高，人们不知道究竟要用多少测试矢量才能覆盖到所有的器件；测试设备的使用成本越来越高，直接影响到芯片的成本。一、测试的概念和原理集成电路（IC）测试是IC产业链中重要的一...
2023-06-08 00:33:00电子技术试性 测试 向量
