重植

• 环旭电子发展先进失效分析技术

  

  环旭电子发展先进失效分析技术，车载电子,环旭电子,SiP，失效,激光,重植,3D，为了将制程问题降至最低，环旭电子利用高精度3D X-Ray定位异常元件的位置，利用激光去层和重植球技术提取SiP 模组中的主芯片。同时，利用X射线光电子能谱和傅立叶红外光谱寻找元件表面有机污染物的源头，持续强化SiP模组失效分析领域分析能力。" /...

  2023-04-24 11:31:00行业信息失效 激光 重植