为第三代宽禁带制造工艺提供支持，泰克新推S530系列参数测试系统

基于KTE7的全新S530平台最大化测量性能、降低成本，助力半导体制造商开拓新兴市场

中国北京2020年10月23日 – 泰克科技日前发布了全新Keithley S530系列参数测试系统，该系统搭载了KTE 7软件，提供更多增强功能。S530平台使半导体制造商为高速增长的新技术增加参数测试功能，同时最大程度地减少资本投入和提高每小时晶圆制造效率。这将降低整体拥有成本，帮助制造商在竞争激烈的新兴市场中应对巨大的价格压力。

基于新兴GaN和SiC宽禁带技术的新型半导体产品，有望实现更快的开关速度，更宽的温度范围，更好的功率效率，以及其他更多增强功能。为满足这些产品的测试需求，基于KTE 7的S530平台拥有实验室级测量性能，并且设置和测试时间最短。针对新应用的出现和需求的变化，可以实现高达1100V的全面灵活的高速配置。芯片制造商以最少的测试/设置时间，在单个系统上、以最少的投资，可以经济高效地扩展到高增长的功率和宽禁带器件中（包括汽车市场）。

“模拟和混合信号半导体制造商在5G通信、汽车、物联网、医疗、绿色能源等市场，不断受到新的最终用户应用的强劲需求。”吉时利/泰克公司副总裁兼总经理Chris Bohn说，“测试平台的这一重大升级，可以帮助这些客户更迅速、更经济地向市场上推出新产品，同时使他们能够适应未来的新要求。”

S530系列的创新技术在多种产品组合中最大化仪器的利用率，现有的测试软件、探头卡和其他项目可以简便实现升级换代，同时全面实现数据关联，明显改善速度。S530-HV能够在任何引脚上测试高达1100V的电压，与功率和宽禁带应用中的其他竞争系统相比，吞吐量可提升50%以上。芯片制造商可以使用单个系统测试多种产品组合，包括根据IATF-16949质量管理标准进行汽车产品测试，也可以通过泰克的服务机构进行校准，以提供全球范围内的优质人员支持。

基于KTE 7的平台为半导体制造商的传统S600和S400系统提供了最简便、最经济的演进道路，在保持全面数据关联的同时，与S600相比，吞吐量可以提高达25%。

功能明显增强，并创下多项业界第一

• 从低压（《200V）转移到高压（》200V）晶圆级测试时，S530-HV选配的Testhead省去了更换仪表、探针卡和线缆测试设置所需的操作员时间。通过Testhead测试头，探针卡可以兼容多家厂商的多种型号，从而可以更快地更换探针卡，并根据ISO-17025进行引脚校准，同时保持向后兼容性。这可以最大限度地降低演进成本，保护了用户投资，同时支持各种新的要求，比如IATF-16949汽车标准。
• S530-HV可以在任何引脚上测试高达1100V的电压，其吞吐量在功率和宽禁带应用中较竞争系统提高50%以上。操作人员可以把任何测试资源以任何顺序连接到任何测试引脚，迅速简便地满足生产要求，而无需重新配置或重新装备信号路径。
• KTE软件兼容能力大大简化并加快了例如从传统S600系统的演进道路，实现全面数据关联，吞吐量可提高达25%。
• 内置瞬态过压/过流保护防止意外损坏探针卡、探针和仪器，这在高速宽禁带应用中尤为关键。
• 在系统校准过程中，全新5880-SRU系统基准单元自动切换所有DC和AC参考标准，而无需手动连接或断开。这种全自动流程大大缩短了执行校准时的系统中断时间，降低了后续支持成本，进而降低了整体拥有成本。

供货情况

S530系列参数测试系统现已在全球范围内上市。

系统产品支持参数测试测试

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