参数测试

• 芯片测试大讲堂——半导体参数测试与避坑指南

  

  芯片测试大讲堂——半导体参数测试与避坑指南，指南,参数测试,测试,芯片,参数,响应，芯片测试是半导体行业中至关重要的一环，准确的测试结果可以保证芯片的质量和可靠性，避免后期出现问题。本文将介绍半导体芯片参数测试的基本原理和常见的避坑指南，帮助读者更好地理解和应用芯片测试技术。一、芯片参数测试的基本原理半导体芯片参数测试是指对TPS62560DRVR芯片进行各种电性能参数的测试，以评估和验证芯片的性能。常见的参数测试包括电压、电流、频率、功率...

  2023-09-14 10:40:00行业信息指南 参数测试 测试

• 电缆故障测试仪的优势与技术参数

  

  电缆故障测试仪的优势与技术参数，测试仪,故障,操作,系统,误差,参数测试，一、产品概述：电缆故障测试仪是迎合工业级电力行业方案和IT时代的快速发展，将原来电缆故障测试仪的局限性用工控嵌入式计算机平台系统、网络服务业务、USB通信技术系统化，极大提高了仪器的使用功能和利用价值以及便捷的现场环境操作。特别对于日益增多的地埋电缆故障提供了一套独有多方案的服务方式和管理学习软件。整套系统满足中华人民共和国电力行业标准《DL/T849.1～ DL/T...

  2023-06-08 00:38:00电子技术测试仪 故障 操作

• 弹簧拉压试验机有哪些技术参数

  

  弹簧拉压试验机有哪些技术参数，有哪些,输出,系统,计算,测量,参数测试，弹簧拉压试验机是测试拉伸、压缩弹簧的变形量和负荷关系特性的专用仪器，适用于橡胶、塑料、各式弹簧等弹性器具在一定工作长度下的工作负荷测试。接下来，介绍一下弹簧拉压试验机的相关知识，希望能帮助大家正确认识和操作弹簧拉压试验机。弹簧拉压试验机的主要结构是什么？试验机的主要结构如下：1.主机：双臂结构压力试验。2.传动系统：由同步齿形带、精密丝杠副及导向部分等。3.驱动系统：系...

  2023-06-08 00:27:00行业信息有哪些 输出 系统

• 后摩尔时代，洞见第三代功率半导体器件参数测试的趋势

  

  后摩尔时代，洞见第三代功率半导体器件参数测试的趋势，趋势,参数测试,时代,可信度,自动化测试,模块化，随着电子技术的不断发展和应用的不断深入，BSS123LT1G功率半导体器件已经成为现代电力电子应用中不可或缺的一部分。功率半导体器件的性能指标对于电力电子系统的性能有着至关重要的影响。因此，对功率半导体器件的参数测试已经成为电力电子应用中的一个重要环节。随着时代的发展，功率半导体器件的性能指标和测试技术也在不断地发展和完善。从第一代功率半导...

  2023-06-07 22:29:00行业信息趋势 参数测试 时代

• 后摩尔时代，洞见第三代半导体功率器件静态参数测试的趋势和未来！

  

  后摩尔时代，洞见第三代半导体功率器件静态参数测试的趋势和未来！，趋势，验证，器件，参数测试，周期，前言        2022年，全球半导体产业终结连续高增长，进入调整周期。与此形成对比，在新能源汽车、光伏、储能等需求带动下，第三代半导体产业保持高速发展，全球化供应链体系正在形成，竞争格局逐步确立，产业步入快速成长期。而国内第三代半导体产业经过前期产能部署和产线建设，国产第三代半导体产品相继开发成功并通过验证，技术稳步提升，产能不断释放，国产碳化硅(SiC）器件及模块开始“上机”，生态体系逐渐完善，自主可...

  2023-05-30 00:00:00百科趋势 验证 器件

• 米尔电子MYC-JX8MPQ核心板开启预售 是德科技推出新并行参数测试系统

  

  米尔电子MYC-JX8MPQ核心板开启预售 是德科技推出新并行参数测试系统，米尔科技,是德科技,欧菲光,核心板,测试系统，系统,核心板,并行,参数测试，米尔电子MYC-JX8MPQ核心板开启预售 是德科技推出新并行参数测试系统-近期，新任以色列驻华大使Irit Ben-Abba（潘绮瑞）、 以色列驻广州总领事馆总领事Peleg Lewi（劳霈乐）、以色列驻广州总领事馆经济与商务领事Shirly Coifman（柯雪莉）一行莅临欧菲光深圳总部...

  2022-03-18 10:42:00行业信息系统 核心板 并行

• Molex发布全球汽车电气化调查结果 KEYS推P9002A并行参数测试系统

  

  Molex发布全球汽车电气化调查结果 KEYS推P9002A并行参数测试系统，Molex,KEYS,测试系统,华为,发动机，并行,系统,参数测试,调查结果，Molex发布全球汽车电气化调查结果 KEYS推P9002A并行参数测试系统-全球电子产品领导者和连接创新者Molex今天发布了其对汽车利益相关者的最新全球调查结果，以确定影响电动汽车 （EV） 创新的主要趋势和障碍。"...

  2022-03-17 17:44:00行业信息并行 系统 参数测试

• 泰克推出带KTE V7.1软件的S530参数测试系统，加速半导体芯片生产

  

  泰克推出带KTE V7.1软件的S530参数测试系统，加速半导体芯片生产，推出，系统，上市，参数测试，芯片，　　中国北京2021年9月29日 – 全球领先的测试测量解决方案提供商泰克科技日前为吉时利S530系列参数测试系统发布了KTE V7.1软件，在全球市场最需要的时候帮助加速半导体芯片制造进程。　　KTE V7.1首次提供的新选项包括：全新并行测试功能和独特的高压电容测试选项，适用于新兴电源和宽带隙应用。与KTE V5.8相比，KTE V7.1把测试时间缩短了10%以上，也就是说，工程师可以减少停机时...

  2021-09-29 00:00:00百科推出 系统 上市

• 为第三代宽禁带制造工艺提供支持，泰克新推S530系列参数测试系统

  

  为第三代宽禁带制造工艺提供支持，泰克新推S530系列参数测试系统，系统，产品，支持，参数测试，测试，基于KTE7的全新S530平台最大化测量性能、降低成本，助力半导体制造商开拓新兴市场中国北京2020年10月23日 – 泰克科技日前发布了全新Keithley S530系列参数测试系统，该系统搭载了KTE 7软件，提供更多增强功能。S530平台使半导体制造商为高速增长的新技术增加参数测试功能，同时最大程度地减少资本投入和提高每小时晶圆制造效率。这将降低整体拥有成本，帮助制造商在竞争激烈的新兴市场...

  2020-10-23 00:00:00百科系统 产品 支持

• 吉时利仪器增强了S530参数测试系统的测量功能

  

  吉时利仪器增强了S530参数测试系统的测量功能，测量，系统，参数测试，吉时，增强，　　48引脚全Kelvin开关•环形振荡器、脉冲、低压DMM选件　　吉时利仪器公司不断增强半导体行业性价比最高的高速生产参数测试方案——S530参数测试系统的功能。由于有吉时利测试环境软件（KTE V5.4）的支持，S530目前配置为48引脚全Kelvin开关以及脉冲发生、频率测量和低电压测量的新型集成选件。这些新增强的功能帮助S530系统实现了更宽范围的生产参数测试应用和高速、经济有效的测...

  2012-03-30 00:00:00百科测量 系统 参数测试

• 吉时利仪器扩展S530参数测试系统量测能力

  

  吉时利仪器扩展S530参数测试系统量测能力，系统，参数测试，吉时，测试，扩展，　　吉时利仪器公司持续强化S530参数测试系统，使这款测试系统成为半导体业界高速产品参数测试最具成本效益的解决方案。在最新版本吉时利测试环境软体（KTE V5.4）的支援下，S530目前可被配置为48 pin 完整的Kelvin开关与搭配最新选项以提供脉衝产生器、频率量测和低电压量测。有了这些强化的新功能，S530系统能提供一个高速、又极具成本效益的解决方案来因应更宽广的产品参数测试应用。　　S530低电流系统採用高性能开关矩阵...

  2012-03-28 00:00:00百科系统 参数测试 吉时