边界扫描

• 边界扫描-Boundary Scan技术及其在芯片测试中的应用

  

  边界扫描-Boundary Scan技术及其在芯片测试中的应用，芯片,边界扫描,模式,用于,观测,测试，边界扫描技术（Boundary Scan），又称为JTAG（Joint Test Action Group）技术，是一种用于测试和诊断集成电路（IC）的方法。它通过在TPA2013D1RGPR芯片的边界上添加一组专门设计的电路，实现了对芯片内部信号线的访问和控制。边界扫描技术在芯片测试中起到了至关重要的作用，本文将介绍边界扫描技术的原理、...

  2023-10-30 13:13:00行业信息芯片 边界扫描 模式

• 安捷伦推出Agilent x1149边界扫描分析仪

  

  安捷伦推出Agilent x1149边界扫描分析仪，分析仪，推出，边界扫描，测试工具，验证，2013 年 2 月 20 日，北京――安捷伦科技公司（NYSE：A）日前宣布推出 Agilent x1149 边界扫描分析仪。边界扫描已经成为工程师们在应对日益增加的测试接入挑战时必不可少的技术。x1149 边界扫描分析仪是一款功能广泛、使用方便的电路板测试工具，能够帮助用户进行电路板设计和验证，以及在生产过程中重复进行相同的 x1149 测试。该分析仪提供了直观的操作界面，您只需点击一下鼠标便可在屏幕上轻松浏览...

  2013-02-20 00:00:00百科分析仪 推出 边界扫描